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ICP, Emission, 휴대용 EDX, GDA등 무기원소를 분석할 수 있는 Solution을 제공합니다.

ICP의  특징 (ARCOS)

1. Design
   1. Chiller 필요 없음
   2. Air compressor 필요없음
2. MultiView (axial/radial) 방식
   1. Real 타입의 axial 방향, radial view 측정 가능
3. ORCA 방식의 Optic system
   1. 파장 범위 : 130nm ~ 770nm (퇴비, 액비 분석 가능- Cl, Br, I)
   2. Ar 순환형, 상온에서 동작 (+15℃)
4. LDMOS(Laterally Diffused Metal Oxide Semiconductor) Generator  
   1. 출력 범위 : 500W ~ 2000W
5. CCD 검출기
   1. 32개 CCD - 10년 보증
   2. 모든 파장 저장, 재 생산 가능

ICP의  특징 (GREEN)

1. Design
   1. Chiller 필요 없음
   2. Air compressor 필요없음
2. 새로운 플라즈마 관측 방식
   1. Dual Side-On Plasma Observation  -  양방향에서 빛을 검출 ( 감도 2배 이상 향상)

      기존의 방식

3. ORCA 방식의 Optic system
   1. Ar 순환형, 상온에서 동작 (+32℃)
4. LDMOS(Laterally Diffused Metal Oxide Semiconductor) Generator  
   1. 출력 범위 : 500W ~ 1700W
5. CMOS 검출기 ( 감도 향상)
   1. 15개 CMOS - 10년 보증
   2. 모든 파장 저장, 재 생산 가능

NIST 원자 분광선 데이터 베이스 보기 (분광선이 겹칠경우 고려해 보세요)